Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об’єкта
DOI:
https://doi.org/10.15407/dopovidi2019.01.047Ключові слова:
дефектний стан, розподіл мікродеформацій, фізичний профільАнотація
Представлено узагальнення методів моментів та Холла—Вільямсона, що не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій та враховує характер функції розсіювання через наявність облас тей когерентного розсіювання. Розроблений підхід базується на формі відновленого із застосуванням методу регуляризації Тихонова повного фізичного профілю і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій.
Завантаження
Посилання
Čerňanský, M. (1999). Restoration and preprocessing of physical profiles from measured data. Snyder, R.L., Bunge, H.J. and Fiala, J. (Eds.) Microstructure analysis from diffraction (pp. 613-651). Oxford: Oxford Univ. Press.
Jones, F. W. (1938). The Measurement of Particle Size by the X-ray Method. Proc. Roy. Soc. Ser. A., 166, No. 924. pp. 16-48.
Warren, B. E. (1963). X-ray study of deformed metals. Uspekhi fiziki metallov, No. 5, pp.171-237 (in Russian).
Tikhonov, A. N., Goncharskiy, A. V., Stepanov, V. V. & Yagola, A. G. (1990). Numerical methods for solving ill-posed problems. Moscow: Nauka (in Russian).
Williamson, G. K. & Hall, W. H. (1953). X-ray line broadening from filed aluminium and wolfram. Acta Metall, 1, pp. 22-31. doi: https://doi.org/10.1016/0001-6160(53)90006-6
Schoening, F. R. L. (1965). Strain and Particle Size Values from X-Ray Line Breadths. Acta Cryst., 18, pp. 975-976. doi: https://doi.org/10.1107/S0365110X65002335
Wilson, A. J. C. (1962). On variance as a measure of line broadening in diffractometry. Proc. Phys. Soc., 80, pp. 286-294. doi: https://doi.org/10.1088/0370-1328/80/1/333
Vasil’ev, D. M. (1977). Diffraction methods of research structures. Moscow: Metallurgiya (in Russian).
Grigor’ev, O. N. (2012). Ceramics and cermets based on oxygen-free refractory compounds. Poroshkovaya metallurgiya, No.11/12, pp. 100-116 (in Russian).
Reshetnyak, M. V. & Sobol’, O. V. (2008). Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of “New_profile” soft-ware for X-ray diffraction data treatment. Fizicheskaya inzheneriya poverhnosti, 6, No. 3-4, pp. 180-188 (in Russian).
Grigor’ev, O. N., Kryachko, L. A., Bega, N. D., Laptev, A. V., Golovkova, M. E., Rozhenko, N. N. & Bersudskiy, E. I. (2013). Effect of ball milling on structural characteristics of tungsten powder. Elektronnaya mikroskopiya i prochnost’ materialov, No. 19, pp. 114-122 (in Russian).
Grigor’ev, O. M., Kartuzov, V. V. & Rozhenko, N. M. (2017). Increase of exactness of quantitative estimates of the Hall—Williamson graphic method due to digital processing of X-ray patterns. Elektronna mіkrosko pіya і mіtsnіst’ materіalіv, No. 23, pp. 16-35 (in Ukrainian).
Korolyuk, V. S., Portenko, N. I., Skorokhod, A. V. & Turbin, A. F. (1985). A Handbook on Probability Theory and Mathematical Statistics. Moscow: Nauka (in Russian).
Rozhenko, N. M., Kartuzov, V. V. & Gusachuk, D. A. (2017). Determination of density function of microstrains into mechanically activated tungsten powders by method of X-ray diffraction. Naukovі notatki, No. 57, pp. 161-167 (in Ukrainian).
Bega, M. D., Vinokurov, V. B., Galanov, B. O., Grigor’ev, O. M., Kartuzov, V. V., Mazur, P. V., Rozhenko, N. M. & Stepanenko, A. V. (2016). Study of the substructure of the tungsten carbide powder during milling by radiography methods. Elektronna mіkroskopіya і mіtsnіst’ materіalіv, No. 22, pp. 58-72 (in Ukrainian).
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2023 Доповіді Національної академії наук України
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
