ШЕВЧЕНКО ОІ, ІЦЕНКО АІ, БОНДАРЕНКО МО. Особливості та переваги дослідження поверхонь матеріалів космічної техніки методом атомно-силової мікроскопії. Kosm. nauka tehnol. [інтернет]. 20, Квітень 2024 [цит. за 01, Лютий 2026];29(1):65-73. доступний у: https://nasu-periodicals.org.ua/index.php/space/article/view/2168