О. І. ШЕВЧЕНКО, А. І. ІЦЕНКО, і М. О. БОНДАРЕНКО, «Особливості та переваги дослідження поверхонь матеріалів космічної техніки методом атомно-силової мікроскопії», Kosm. nauka tehnol., вип. 29, вип. 1, с. 65–73, Квіт 2024.