ШЕВЧЕНКО, О. І.; ІЦЕНКО, А. І.; БОНДАРЕНКО, М. О. Особливості та переваги дослідження поверхонь матеріалів космічної техніки методом атомно-силової мікроскопії. Космічна наука і технологія, [S. l.], v. 29, n. 1, p. 65–73, 2024. DOI: 10.15407/knit2023.01.065. Disponível em: https://nasu-periodicals.org.ua/index.php/space/article/view/2168. Acesso em: 9 лис. 2024.