ШЕВЧЕНКО, О. І., ІЦЕНКО, А. І., & БОНДАРЕНКО, М. О. (2024). Особливості та переваги дослідження поверхонь матеріалів космічної техніки методом атомно-силової мікроскопії. Космічна наука і технологія, 29(1), 65–73. https://doi.org/10.15407/knit2023.01.065