ШЕВЧЕНКО, О.І., ІЦЕНКО, А.І. і БОНДАРЕНКО, М.О. 2024. Особливості та переваги дослідження поверхонь матеріалів космічної техніки методом атомно-силової мікроскопії. Космічна наука і технологія. 29, 1 (Квіт 2024), 65–73. DOI:https://doi.org/10.15407/knit2023.01.065.