[1]
Гайдар, Г. 2024. Особливості зміни структури й електрофізичних характеристик n-Si під впливом різних режимів термообробки . Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine. 5 (Бер 2024), 42–51. DOI:https://doi.org/10.15407/dopovidi2020.05.042.